MarSurf 3D | Трехмерное измерение поверхности

MarSurf 3D CM explorer

Art. no. 6350000

Flexible all-round measuring solution

The MarSurf CM explorer is a compact confocal microscope for the accurate three-dimensional measurement and analysis of surfaces – contactless, independent of material, and fast.

MarSurf 3D CM <i>explorer</i>
MarSurf 3D CM <i>explorer</i>
Flexible all-round measuring solution

The MarSurf CM explorer is suitable for use in test laboratories and equipped for quality assurance in production environments due to its robust construction and insensitivity to environmental influences.
Typical measuring tasks
  • Roughness measurements as per
    ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178
  • Topography measurements (including volume, wear, tribology)
  • contour and form (2D, 3D)
  • pore, particle analysis
  • defect detection
  • ...
Maximum data quality

One of our most important criteria, which equates to excellent precision, accuracy, repeatability, reproducibility and documentation to ensure traceability and auditability. Our greatest service for the customer is to provide a quantitative measuring value that can be implemented reliably in the engineering, product, process design and quality control areas etc.
MarSurf 3D CM explorer | № детали 6350000
Зона позиционирования по оси x 50 mm
Зона позиционирования по оси y 50 mm
Зона позиционирования по оси z 70 mm
Расширение зоны позиционирования по осям x, y, z Optional: Positioning volume in z: 40 - 110 mm
Электропитание 100 - 240 V
Принцип измерения

Конфокальный 
Светодиодная подсветка повышенной яркости (505 нм / белая)

Языки Немецкий , Английский , Французский , Итальянский , Испанский , Португальский , Польский , Русский , Турецкий , Китайский , Японский , Корейский

Variety of applications for our products

Машиностроение
Качественная и количественная оценка шероховатости, геометрии и объемного износа  

Электронная и полупроводниковая промышленность
Проверка компонентов вплоть до субмикрометрового диапазона для бездефектных изделий

Медицинская техника
Контроль качества поверхности медицинских изделий на производстве и в лабораториях

Материаловедение
Оптимизация функциональных свойств новых поверхностей и изделий

Микросистемная технология
Измерение сложной геометрии поверхности мельчайших компонентов с точностью до нанометра
Правильное, воспроизводимое измерение
Данные измерений надежно регистрируются и могут быть воспроизведены. Кроме того, гарантируются высочайшее качество исходных данных и точность профиля.
Широкий диапазон обрабатываемых деталей
Material-independent measurement of any geometries and surface characteristics regardless of whether they are reflective, absorbent, opaque or transparent.
Интуитивное управление
Простой пользовательский интерфейс с автоматическими режимами для всех значимых параметров измерений, в том числе использование протоколов измерений для известных поверхностей.
To top